DE-G白皮书 | 今年会jinnianhui

测试芯片EDA&IP
- SmtCell 功能强大的参数化单元创建工具
- TCMagic 通用型的测试芯片版图自动化设计平台
- ATCompiler 可寻址测试芯片设计平台
- Addressable IP 可寻址测试芯片
- ICSpider 产品芯片成品率和性能诊断
- Dense Array 超高密度测试芯片设计及快速测试技术
- HDYS 高密度工艺监测电路IP
DATAEXP大数据分析平台
- DE-G 专业、灵活、高效‌的通用型统计分析平台
- DE-YMS 半导体制造全流程数据管理分析系统
- DE-DMS 缺陷管理分析系统
- INF-AI 为半导体量身定做的模型训练、评估、上线全流程智能平台
- INF-ADC 自动缺陷分类系统
- INF-WPA 智能高效的晶圆缺陷图案分析系统
- DE-RF RF数据分析软件
- DE-FDC 设备监控系统
- DE-SPC 统计过程控制系统
- DE-Alarm 智能良率、品质异常检测及报警系统
- DE-iCASE 半导体缺陷异常智能化诊断系统
- DE-DN 半导体缺陷通知和管理系统
- SemiMind 基于大语言模型的半导体行业智能专家
- DE-FBM 存储芯片失效模式分析智能系统
- INF-TPC 基于无监督机器学习的机台trace实时异常检测系统
- QuickRoot AI增强的快捷根因分析及溯源系统
- AutoInk 车规级芯片筛选工具
- INF-iMetrology AI智能量测工具
- AI DE-G AI数据分析专家
- SemiAgent 企业级数字员工平台
DFM软件
- CMPEXP 高效CMP建模与仿真工具
- Virtual Yield 芯片良率建模工具
- PatternScan 高性能版图可视化图形匹配工具
- LayoutVision 强大的版图集成与分析平台
- LayoutInsight 高效的芯片器件版图几何特性和类型分析工具
DFT软件
- QuanTest 可测性设计自动化和成品率诊断解决方案
- QuanTest-YAD 良率感知的大数据诊断分析平台

晶圆级电性参数测试设备

LayoutVision Lite

高性能的版图查看工具